4020130076 Practical Course in Electron Microscopy - Basics and Application
Digital- & Präsenz-basierter Kurs
- classroom language
- DE
- aims
- Begleitend zur Vorlesung 40537 - Einführung in die Elektronenmikroskopie - werden im Praktikum die in der Vorlesung behandelten Techniken praktisch angewendet. Dafür stehen zwei Transmissionselektronenmikroskope zur Verfügung: (TEM/STEM Hitachi H-8110 für konventionelle TEM-Untersuchungen und TEM/STEM JEOL JEM2200FS für spektroskopische TEM-Untersuchungen). Zu Beginn des Kurses werden ausgewählte Präparationstechniken demonstriert. Dadurch wird den Studierenden die Möglichkeit gegeben, praktische Erfahrungen auf dem Gebiet der TEM-Probenpräparation zu sammeln und die Kenntnisse zu den TEM-Analyseverfahren praktisch umzusetzen.
- requirements
- Teilnahme am Vorlesungskurs - 40537 Einführung in die Elektronenmikroskopie.
- assigned modules
-
P23.2.2
P23.2
- amount, credit points; Exam / major course assessment
- 4 SWS, 0 SP/ECTS (Arbeitsanteil im Modul für diese Lehrveranstaltung, nicht verbindlich)
- contact
- Dr. Holm Kirmse, NEW15, R. 3'308, Tel. 7641
- literature
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D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy. Plenum Press, New York 1996; ISBN 0-306-45324-X
B. Fultz, J.M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 2nd edition, Springer 2002; ISBN3-540-43764-9