Math.- Nat. Fakultät Institut für Physik in english


Sommersemester 2020
Stand: 07.05.20 14:36:14



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Lehrkraftplan 1.HS: 13.04  2.HS: 01.06  Zw.Sem.: 20.07  Beginn WS: 17.10
Holm Kirmse

LV Nr. Modul Nr. Modulname LV Titel SP* Studien­gang FS Typ SWS
4020200122 P24.2.b Grundlagen der Kristallographie und Kristalldefekte Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
VL 2
4020200122 P24.2.b Grundlagen der Kristallographie und Kristalldefekte Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
UE 1
4020200121 P24.2.e Einführung in die Elektronenmikroskopie Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen 5 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
PR 4
4020200121 P25.2.c Spezialmodul Festkörperphysik Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen 5 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
PR 4
4020200121 P35.4 Spezialisierungsfach Short-Wavelength Optics Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen 5 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
PR 4
4020200122 P35.4 Spezialisierungsfach Short-Wavelength Optics Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
VL 2
4020200122 P35.4 Spezialisierungsfach Short-Wavelength Optics Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
UE 1

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