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Institut für Physik
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KVL / Klausuren / MAP 1.HS: 18.10  2.HS: 13.12  Zw.Sem.: 21.02  Beginn SS: 11.04

4020105106 Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen  VVZ 

PR
Mi 15-19
wöch. NEW 14 2'05 (0) Holm Kirmse, Eva Oehlschlegel, Ines Häusler

Digital- & Präsenz-basierter Kurs

Lern- und Qualifikationsziele
Begleitend zu dem Vorlesungskurs - 40537 Einf.i.d. Elektronenmikroskopie - werden in dem Praktikum die in dem Vorlesungskurs besprochenen Techniken der Transmissionselektronenmikroskopie praktisch angewendet. Dafür stehen zwei Transmissionselektronenmikroskope zu Verfügung: (TEM/STEM Hitachi H-8110 für die konventionelle TEM-Analyse und TEM/STEM JEOL JEM2200FS für die spektroskopische TEM-Analyse). Dadurch wird den Studierenden eine Möglichkeit gegeben, sowohl eine praktische Erfahrung auf dem Gebiet der TEM-Probenpräparation zu sammeln als auch die theoretischen Kenntnisse der TEM-Analyseverfahren in die Praxis umzusetzen.
Voraussetzungen
Teilnahme am Vorlesungskurs - 40537 Einf.i.d. Elektronenmikroskopie.
Zugeordnete Module
P23.2.1 P23.2
Umfang, Studienpunkte; Modulabschlussprüfung / Leistungsnachweis
4 SWS, 0 SP/ECTS (Arbeitsanteil im Modul für diese Lehrveranstaltung, nicht verbindlich)
Ansprechpartner
Dr. Holm Kirmse NEW15 2'514
Literatur
D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy. Plenum Press, New York 1996; ISBN 0-306-45324-X
B. Fultz, J.M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 2nd edition, Springer 2002; ISBN3-540-43764-9
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