KVL / Klausuren / MAP 1.HS: 15.10  2.HS: 10.12  Zw.Sem.: 16.02  Beginn SS: 06.04

4020125047 Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen  VVZ 

PR
Mo 17-18
wöch. NEW 15 0'516 (0) Holm Kirmse, Eva Oehlschlegel, Ines Häusler

Digitaler Kurs

Lern- und Qualifikationsziele
Begleitend zu dem Vorlesungskurs - 40537 Einf.i.d. Elektronenmikroskopie - werden in dem Praktikum die im Vorlesungskurs besprochenen Techniken der Transmissionselektronenmikroskopie praktisch angewendet. Dafür stehen zwei Transmissionselektronenmikroskope zur Verfügung: (TEM/STEM Hitachi H-8110 für die konventionelle TEM-Analyse und TEM/STEM JEOL JEM2200FS für die spektroskopische TEM-Analyse). Dadurch wird den Studierenden eine Möglichkeit gegeben, sowohl praktische Erfahrungen auf dem Gebiet der TEM-Probenpräparation zu sammeln als auch theoretische Kenntnisse der TEM-Analyseverfahren in die Praxis umzusetzen.
Voraussetzungen
Teilnahme am Vorlesungskurs - 40537 Einf.i.d. Elektronenmikroskopie.
Zugeordnete Module
P23.2.1 P23.2
Umfang, Studienpunkte; Modulabschlussprüfung / Leistungsnachweis
4 SWS, 0 SP/ECTS (Arbeitsanteil im Modul für diese Lehrveranstaltung, nicht verbindlich)
Ansprechpartner
Dr. Holm Kirmse NEW15 2'404
Literatur
D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy. Plenum Press, New York 1996; ISBN 0-306-45324-X
B. Fultz, J.M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 2nd edition, Springer 2002; ISBN3-540-43764-9
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